技术参数
1、X光源：封闭式X-射线源，靶材Cu; X射线最大输出功率≥3KW，光管功率≥2KW，工作电压40KV， 电流40mA。
2、测角仪：测角仪半径为285mm；θ-θ 可联动或单动, 垂直方式；步进马达光学编码；2θ范围：-3°～162°，2θ速度：2000°/min；测角仪最小步进为1/10000度，测角仪配程序式可变狭缝。
3、软件：使用图形用户界面的单晶帧数据获取和成像软件；面探测器数据收集整体方案最优化组织软件；SHELXTL结构解析和精修软件。 
4、探测器：DteX-Ultra阵列探测器，线性范围：≥4×107cps；最大计数率1×10⁸cps， 
5、其他：文件后缀为raw，在Jade中打开File的Patterns，选择RINT-2000 Binary Pattern Files可读入数据并转换成ASC
测试范围

     主要检测对象为结晶态的多晶样品。检测内容包括晶体中原子的排列和分布、样品中物相的组成和含量、结晶颗粒的大小、点阵常数及其随温度的变化等。 

     应用于化学、化工、物理、材料、制药等与晶体及其结构有关的领域。

样本检测注意事项
     
     样品需制备成固体粉末（粒度200~300目），样品用量为1g以上。
所属单位
     分析测试中心
放置地点
     工业生态楼108
负责人
     马宏伟  
    
     闫丽
联系方式
   
    电话： 136-9949-6771    
    
             135-8179-6538    
    邮箱： hwma@bit.edu.cn     

             626828807@qq.com
收费标准
     校内：常规：150元/小时
     校外：常规：200元/小时